スキャン方式FFP計測装置 FFP1003
●概要
FFP1003は、LD・LED・光ファイバなどからの出射光ビームの拡がり角度分布を自動測定するシステムです。検出器としてPDを用いることにより、短波長帯・長波長帯を問わず、高感度・高ダイナミックレンジな計測を実現しています。ニ軸スキャン方式の採用により、Xプロファイル・XYプロファイルだけでなく、三次元プロファイルの計測まで可能としています。高精度に調整されたスキャン・回転光学系を外部PCで制御することにより、簡単に高精度なFFP計測が可能です。
●お知らせ
本装置を用いましたFFP計測サービスを行います。リーズナブルな金額でお客様のサンプルを計測いたします。
詳細はお問合せください。
●pdfカタログはこちらをクリックしてください→FFP1003カタログPDF

特徴
・Xプロファイル、XYプロファイル、三次元プロファイル計測
・短波長帯、長波長帯のLD・LEDおよびファイバに対応
・マイクロW以下の微小光量で計測可能
・強度軸ダイナミックレンジ>40dB
・スキャン角度範囲:±60°および回転角度範囲:180°
構成
・スキャン回転機構系
・制御回路
・専用計測解析PCおよびソフトウェア
・試料ホルダ:FC型光ファイバコネクタ、CANパッケージLDホルダ

(注意)
お客様サイドでPCを準備される場合は、WindowsXP、PCIスロットを有するデスクトップPCを準備してください。Vistaでは動作しません。



FFP1003画面表示 FFP1003機構部

仕様

計測波長域

320nm〜1100nm(短波長帯)、900nm〜1700nm(長波長帯)

検出限界

-50dBm(波長、拡がり角に依存します)

ダイナミックレンジ

40dB

スキャン角度範囲

最大±60°(ピッチ0.1°)

回転角度範囲

180°(最小ピッチ0.09°)


計測項目

ビーム幅(FWHM、1/e幅、1/e2幅、任意%幅)、ピーク強度、トータル強度、ピーク強度座標、重心座標

グラフ表示

Xプロファイル、XYプロファイル、三次元プロファイル

その他

ガウシアンフィッティング、縦軸Log表示、数値データ保存、画面印刷


お問合せ
電話:053-430-5023
FAX:053-430-5024
問合わせフォーム mail

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