スキャン方式FFP計測装置 FFP1003 |
●概要
FFP1003は、LD・LED・光ファイバなどからの出射光ビームの拡がり角度分布を自動測定するシステムです。検出器としてPDを用いることにより、短波長帯・長波長帯を問わず、高感度・高ダイナミックレンジな計測を実現しています。ニ軸スキャン方式の採用により、Xプロファイル・XYプロファイルだけでなく、三次元プロファイルの計測まで可能としています。高精度に調整されたスキャン・回転光学系を外部PCで制御することにより、簡単に高精度なFFP計測が可能です。 |
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●特徴 ・Xプロファイル、XYプロファイル、三次元プロファイル計測
・短波長帯、長波長帯のLD・LEDおよびファイバに対応
・マイクロW以下の微小光量で計測可能
・強度軸ダイナミックレンジ>40dB
・スキャン角度範囲:±60°および回転角度範囲:180°
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●構成
・スキャン回転機構系
・制御回路
・専用計測解析PCおよびソフトウェア
・試料ホルダ:FC型光ファイバコネクタ、CANパッケージLDホルダ
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●仕様
計測波長域
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320nm〜1100nm(短波長帯)、900nm〜1700nm(長波長帯)
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検出限界
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<-50dBm(波長、拡がり角に依存します)
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ダイナミックレンジ
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>40dB
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スキャン角度範囲
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最大±60°(ピッチ0.1°)
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回転角度範囲
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180°(最小ピッチ0.09°)
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計測項目
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ビーム幅(FWHM、1/e幅、1/e2幅、任意%幅)、ピーク強度、トータル強度、ピーク強度座標、重心座標
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グラフ表示
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Xプロファイル、XYプロファイル、三次元プロファイル
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その他
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ガウシアンフィッティング、縦軸Log表示、数値データ保存、画面印刷
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