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スキャン方式FFP計測装置
FFP1003

FFP1003
LD・LED・光ファイバなどからの出射光ビームの拡がり角度分布を自動測定するシステムです。
検出器としてPDを用いることにより、短波長帯・長波長帯を問わず、高感度・高ダイナミックレンジな計測を実現しています。ニ軸スキャン方式の採用により、Xプロファイル・XYプロファイルだけでなく、三次元プロファイルの計測まで可能としています。
高精度に調整されたスキャン・回転光学系を外部PCで制御することにより、簡単に高精度なFFP計測が可能です。
\4,000,000〜 FFP1003詳細説明
リアルタイムFFP計測装置
FFP1005

FFP1005表示画面
光導波路、SMファイバ、MMファイバ、POF、半導体レーザなどから出射される光ビームの拡がり角度分布を計測するシステムです。
カメラ方式と専用光学系の組合せにより、二次元放射角度強度分布をリアルタイム計測します。
水平軸±22.9°(NA0.39)、垂直軸±18.3°(NA0.31)の範囲を、分解能0.036°(0.6mrad)でリアルタイムに解析します。
カメラとしてCCDカメラを採用しておりますので、計測波長範囲は400nm〜1100nmです。
\900,000〜 FFP1005詳細説明
卓上型発光素子検査装置
NFP1007

NFP1007は専用設計された同軸光学系を採用することにより、LEDなど発光素子の発光形状・スペクトル・パワーを瞬時に同時計測するシステムです。
システムは小型軽量に設計されておりますので、机上に設置して簡単に計測を行うことができます。
計測波長域350nm〜1000nmをカバーしておりますので、可視LEDをはじめ、UV-LED、近赤外LEDなどを計測することができます。
またオプションとして、I-L-V計測機能も準備しています。

1式:
\2,800,000

オプションI-L-V計測機能\400,000
NFP1007詳細説明
簡易型NFP計測装置
NFP1006
NFP1006
光導波路、SMファイバ、MMファイバ、POF、半導体レーザ出射端のビーム形状を計測するシステムです。
カメラ方式と専用光学系の組合せにより、二次元強度分布をリアルタイム計測します。
最大×100倍の拡大機能により、分解能0.07μmで計測します。
カメラとしてCCDカメラを採用しておりますので、計測波長範囲は400nm〜1100nmです。
\950,000〜 NFP1006詳細説明
小型軽量SMファイバ出力LD安定化光源
LDS1003

LDS1003
ピグテイルLDモジュールと駆動回路を組合せた小型軽量の低価格LD光源です。調整不要で、電源オン後直ちに1mWのLD光を出力します。
LD種類により、400nm帯〜1620nm帯で波長選択できます。
駆動回路はAPC機能を内蔵していますので、長時間安定した出力が得られます。
FFP、NFP用テスト光源に最適です。
\135,000〜\180,000
(400nmを除きます)
LDS1003詳細説明
ソースメータ機能付き多出力直流電源
VI1002

VI1002
最大32チャンネルの独立した定電流・定電圧を発生させることが可能な簡易型・低コスト電源です。
ソースメータ機能を搭載しており、チャンネル毎の負荷電流・負荷電圧を測定できます。
LDやLEDの発光駆動電源として、FFP計測、NFP計測等の用途に使用できます。
4出力:\500,000〜32出力:\2,300,000 VI1002詳細説明
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