| 半導体レーザ、光ファイバ、導波路等からの出射ビーム形状を簡便に計測できます！ |
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| NFP計測装置 NFP1006 |
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
 |
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
●概要 NFP1006は光導波路、SMファイバ、MMファイバ、POF、半導体レーザ出射端のビーム形状を計測するシステムです。 カメラ方式と専用光学系の組合せにより、二次元強度分布をリアルタイム計測します。 最大×100倍の拡大機能により、分解能0.07μmまで計測可能です。 |
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
●pdfカタログはこちらをクリックしてください→ |
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
●特徴 ・理論分解能は標準付属の×20対物レンズ使用時0.34μm、オプションの×100対物レンズ使用時0.07μmです。 ・各種計測解析機能を搭載しています。 ・計測最大繰り返しスピードは10回/秒です。 ・画期的な低価格を実現しました。 |
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| ●構成 ・NFP光学系（×20倍対物レンズ付属） ・カメラ ・専用ソフトウェア ・オプション：PC、各種対物レンズ、各種ステージ系 （注意） お客様サイドでPCを準備される場合は、Windows7、USB2.0ポート×2式を有するノート型PCまたはデスクトップPCを準備してください。 |
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
●仕様
|
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
