半導体レーザ、光ファイバ、導波路等からの出射ビーム形状を簡便に計測できます!

NFP計測装置 NFP1006

NFP1006表示画面

●概要

NFP1006は光導波路、SMファイバ、MMファイバ、POF、半導体レーザ出射端のビーム形状を計測するシステムです。
カメラ方式と専用光学系の組合せにより、二次元強度分布をリアルタイム計測します。
最大×100倍の拡大機能により、分解能0.07μmまで計測可能です。
●pdfカタログはこちらをクリックしてください→NFP1006カタログPDF

特徴
・理論分解能は標準付属の×20対物レンズ使用時0.34μm、オプションの×100対物レンズ使用時0.07μmです。
・各種計測解析機能を搭載しています。
・計測最大繰り返しスピードは10回/秒です。
・画期的な低価格を実現しました。
構成
・NFP光学系(×20倍対物レンズ付属)
・カメラ
・専用ソフトウェア
・オプション:PC、各種対物レンズ、各種ステージ系

(注意)
お客様サイドでPCを準備される場合は、Windows7、USB2.0ポート×2式を有するノート型PCまたはデスクトップPCを準備してください。

仕様

計測波長域

400nm〜1000nm

拡大倍率

標準付属

オプション

20倍

10倍

50倍

100倍

入射NA

0.4

0.25

0.7

0.75

作動距離(mm)

5.2

7.48

0.36

0.27

視野(μm)

429×343

858×686

172×137

86×69

分解能/ピクセル(μm)

0.34

0.67

0.13

0.067

減光範囲

0dB〜-46dB(減光フィルタ×3枚の組合せによる)減光フィルタ:透過率0.001、0.01、0.05、0.1、0.2

計測スピード

10回/秒

A/D変換精度

10bit

露光時間

可変

PC I/F

USB2.0


計測項目

ビーム幅(FWHM、1/e幅、1/e2幅)、ピーク強度、トータル強度、ピーク強度座標、重心座標、ビーム断面積、主軸傾き、楕円率等

グラフ表示

Xプロファイル、XYプロファイル、二次元プロファイル、三次元プロファイル

補正機能

感度ムラ補正、暗電流補正

その他

数値データ保存、画像保存、画面印刷



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