卓上型発光素子・LED検査装置 NFP1007(生産終了品)
●概要
NFP1007は専用設計された同軸光学系を採用することにより、LEDなど発光素子の発光形状・スペクトル・パワーを瞬時に同時計測するシステムです。
システムは小型軽量に設計されておりますので、机上に設置して簡単に計測を行うことができます。
計測波長域350nm〜1000nmをカバーしておりますので、可視LEDをはじめ、UV-LED、近赤外LEDなどを計測することができます。
またオプションとして、I-L-V計測機能も準備しています。
●pdfカタログはこちらをクリックしてください→NFP1007カタログpdf
特徴
・素子の発光形状・スペクトル・パワーを瞬時に同時計測
・取り扱いしやすいデスクトップ型システム
・位置合せに便利な手動XYZステージ系を標準装備
・広い計測波長範囲:350nm〜1,000nm
・高い計測分解能:形状分解能1.34μm、スペクトル分解能1nm、パワー分解能10nW
・オプションによりI-L-V計測可能
用途
・生産ラインでの受け入れ検査
・品質管理部門での故障解析
・技術開発部署での試作素子評価
・研究・教育機材として
・LED測定の基本ツールとして

NFP1007画面表示例

NFP1007外観写真
仕様

計測仕様

計測項目

発光形状、発光スペクトル、発光パワー

計測受光条件

NA:0.1、ワーキングディスタンス:15.7mm

計測波長範囲

350nm〜1,000nm

計測光強度範囲

10nW〜100mW:ビーム形状やスペクトルにより変動します

最大計測素子寸法/分解能

1.3mm×1.1mm、分解能1.0μm

スペクトル計測分解能

1nm

XYZステージ系

構成

光学系搭載XYステージ、試料搭載XYZステージ、試料ホルダ、ベース

光学系搭載XYステージ

移動量:XY±50mm

試料搭載XYZステージ

移動量:XY±6.5mm、Z±3.0mm読み取り分解能:10μm

試料ホルダ

標準:4ピンソケット(その他各種製作いたします)

ベース

300mm×450mm、全面にM4ネジを25mmピッチであけてあります、取っ手付き

計測ソフトウェア

発光形状

ビーム幅、座標、ビーム面積、主軸傾き、Xプロファイル、XYプロファイル、二次元プロファイル、三次元プロファイル 等

発光スペクトル

ピーク波長、重心波長、スペクトル幅、スペクトルプロファイル 等

発光パワー

瞬間パワー値、最大値、最小値、平均値、パワーの時間的変化 等

動作環境

USB2.0ポートを有するWindows XP PC、ソフトウェアインストール用CDROMドライブ

標準構成

同軸光学系

本体、×5倍対物レンズ、減光フィルタホルダ、減光フィルタ若干量、リング照明(電源含む)

発光形状計測用カメラ

本体、USBケーブル、サンプルプログラムCD

スペクトル計測用分光器

本体、光ファイバ、USBケーブル、サンプルプログラムCD

パワー計測用光パワーメータ

本体、Siパワーメータヘッド、USBケーブル、サンプルプログラムCD

ソフトウェア

計測解析ソフトウェアCD

ステージ系

光学系搭載XYステージ、試料搭載XYZステージ、試料ホルダ、ベース

I-L-V計測オプション

計測項目

I-L、V-L、V-I計測

電圧電流スイープ範囲

0.01V〜38V/分解能10mV  0.001mA〜200mA/分解能1μA

構成

ソースメータ機能付き電源、USBケーブル、計測ソフトウェア


システム構成
NFP1007システム構成図

お問合せ
電話:053-430-5023
FAX:053-430-5024
問合わせフォーム mail

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